IP65 LTE নিম্ন পিআইএম দিকনির্দেশক কাপলার 340-2700MHz JX-DC-340M2700M-18Nx
বর্ণনা
IP65 LTE দিকনির্দেশক কাপলার 340-2700MHz JX-DC-340M2700M-18Nx
লো PIM IP65 LTE ব্যান্ড ডিরেকশনাল কাপলার JX-DC-340M2700M-18Nx হল এক ধরনের RF প্যাসিভ কম্পোনেন্ট যা Jingxin দ্বারা ডিজাইন করা এবং বিক্রি করার জন্য তৈরি করা হয়েছে, যা বিশেষভাবে কম সন্নিবেশ ক্ষতি, ছোট ভলিউম, মাপা LxWxH: 177mm x 47mm x 23mm সহ বৈশিষ্ট্যযুক্ত।
এই কাপলারের ফ্রিকোয়েন্সি 340-2700MHz থেকে কাপলিং 6dB、8dB、10dB、15dB、20dB、30dB , যা 300W এর শক্তির অধীনে কাজ করে এবং কম পিম -155dBc@2*43dBm সংযোগকারীর সাথে এই কাপলটি তৈরি করা হয়। , কিন্তু যা চাহিদা অনুযায়ী অন্যদের সুইচ করা যেতে পারে. কালো রঙে পেইন্টিং সহ, এই ধরনের কাপলার দীর্ঘ সময় ধরে ক্ষেতে সহ্য করতে পারে।
প্রতিশ্রুতি অনুযায়ী, Jingxin-এর সমস্ত RF প্যাসিভ উপাদানের 3 বছরের ওয়ারেন্টি রয়েছে।
প্যারামিটার
| প্যারামিটার | স্পেসিফিকেশন | |||||||
| ফ্রিকোয়েন্সি পরিসীমা | 340-2700MHz | |||||||
| মডেল নম্বর | JX-DC-34 0M2700M-18N6 | JX-DC-34 0M2700M-18N8 | JX-DC-34 0M2700M-18N10 | JX-DC-34 0M2700M-18N15 | JX-DC-34 0M2700M-18N20 | JX-DC-34 0M2700M-18N30 | ||
| কাপলিং(dB) | 380-2700 | 6±1.0 | 8±1.0 | 10±1.2 | 15±1.2 | 20±1.2 | 30±1.5 | |
| 340-380 | 6±1.5 | 8±1.5 | 10±1.7 | 15±1.7 | 20±1.8 | 30±1.8 | ||
| সন্নিবেশ ক্ষতি (dB) | 1.8 | 1.2 | 1.1 | 0.5 | 0.4 | 0.3 | ||
| ভিএসডব্লিউআর | ≤1.25 | ≤1.25 | ||||||
| নির্দেশনা | ≥20dB | ≥18dB | ||||||
| শক্তি | 300W | |||||||
| প্রতিবন্ধকতা | 50Ω | |||||||
| পিআইএম 3 | -155dBc@2*43dBm (900MHz এবং 1800MHz-এ পরীক্ষা) | |||||||
| তাপমাত্রা পরিসীমা | -35°C থেকে +85°C | |||||||
কাস্টম RF প্যাসিভ উপাদান
আরএফ প্যাসিভ উপাদানগুলির প্রস্তুতকারক হিসাবে, জিংক্সিন ক্লায়েন্টদের অ্যাপ্লিকেশন অনুসারে বিভিন্ন ডিজাইন করতে পারে।
RF প্যাসিভ কম্পোনেন্টের আপনার সমস্যা সমাধানের জন্য মাত্র 3টি ধাপ
1.আপনার দ্বারা পরামিতি সংজ্ঞায়িত করা।
2. Jingxin দ্বারা নিশ্চিতকরণের জন্য প্রস্তাব দেওয়া।
3. Jingxin দ্বারা পরীক্ষার জন্য প্রোটোটাইপ উত্পাদন.
RF প্যাসিভ কম্পোনেন্টের আপনার সমস্যা সমাধানের জন্য মাত্র 3টি ধাপ
1.আপনার দ্বারা পরামিতি সংজ্ঞায়িত করা।
2. Jingxin দ্বারা নিশ্চিতকরণের জন্য প্রস্তাব দেওয়া।
3. Jingxin দ্বারা পরীক্ষার জন্য প্রোটোটাইপ উত্পাদন.
